集成電路測試向量的調度與優化

發布時間:2020-12-14 19:34
  集成電路測試系統是對集成電路工作性能、電氣參數測試的工具。最常用的使用方法是:集成電路測試系統讀取測試向量,對被測芯片引腳施加輸入激勵,測試被測芯片的引腳輸出響應,比較輸出響應與預期響應來判斷被測芯片是否達標。在進行集成電路測試的過程中,由于硬件無法實現理論上的無限大存儲量,在某一時刻只能存儲一部分的測試向量信息,因此需要一個機制及時的更換硬件內存信息。針對上述問題,本文設計了調度模塊,確保硬件在合適的時侯更換內存,在測試時隨時都能找到測試向量信息。調度模塊在集成電路軟件系統中有著承上啟下的作用。本文對集成電路測試向量的調度與優化進行了以下研究:(1)從需求出發設計并實現了調度模塊。調度模塊實現了對測試向量的調度,確保了測試過程中硬件能夠隨時找到測試向量的真實信息,同時能夠減少硬件內存的替換次數,縮短了測試時間,提高了測試效率。(2)設計了調度算法。調度過程需要一個調度算法來處理測試向量集,通過比較分析發現,調度機制與高速緩沖存儲器Cache的最優頁面替換算法OPT十分相似,因此本文以最優替換算法為基礎,對其進行了優化改進,設計了適合本項目使用的調度算法。(3)由于測試向量中向量操作碼... 

【文章來源】:電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數】:69 頁

【學位級別】:碩士

【部分圖文】:

集成電路測試向量的調度與優化


接觸測試原理圖

原理圖,功能測試,原理圖,向量


功能測試是數字集成電路測試的主要部分。它模擬了被測設備的實際工作狀態,并編寫了一系列測試向量來測試被測設備的工作狀態。每個測試向量指定被測設備的輸入引腳的輸入數字狀態和輸出引腳的預期輸出狀態。在測試過程中,測試機以設置的速率執行測試向量,并將采集的輸出引腳的實際輸出狀態與向量中的預期輸出狀態進行比較,以確定被測設備的電路功能是否正常。數字集成電路功能測試的原理圖如圖2-2所示:功能測試的測試過程如下:測試向量集中提供被測器件在每一個向量周期中引腳的輸入狀態和期望狀態,向量格式化編碼單元收到被測器件引腳輸入狀態中的邏輯值,并結合測試人員設定的時序參數和波形格式,生成時序波形發送給測試通道,測試通道根據該通道內設定的電壓、電流等電氣參數,將輸入時序波形的幅度進行增大或減小,驅動與測試通道連接的被測器件輸入引腳。同一個向量測試周期中,被測器件輸出引腳輸出的邏輯電平被測試通道采集,并與測試通道內設定的比較高低電平值比較,將采集的電平值轉換為邏輯值發送給輸出結果比較單元。輸出結果比較單元獲取同一向量測試周期內測試向量中的期望狀態,與測試通道采集的邏輯狀態作對比。如果邏輯狀態相同,則進行下一條測試向量的測試;如果不同,則將該測試通道的期望狀態和采樣狀態作為歷史記錄保存。測試向量集全部執行后,如果測試向量全部通過測試,則被測芯片功能測試合格,如果存在測試向量未通過測試,則被測芯片功能測試不合格,可通過歷史記錄查找原因。

框圖,集成電路,測試系統,框圖


作為集成電路性能的主要工具,現在主要使用的集成電路自動化測試系統是由自動化測試設備,測試軟件平臺,測試環境三部分組成的[13]。如圖2-3所示。集成電路測試系統可以簡單地視為測試軟件和測試設備的組合。測試過程可以看作是運行由測試軟件在硬件測試儀器上編寫和編譯測試文件,并將運行結果與預期結果進行比較的過程。圖中所示的集成電路測試系統的硬件是一個測試儀,由測試控制終端(主控計算機),測試機(測試模塊)和設備接口板組成。如圖2-4所示:

【參考文獻】:
期刊論文
[1]集成電路測試原理和向量生成方法分析[J]. 宋尚升.  現代電子技術. 2014(06)
[2]基于替換概率的閃存數據庫緩沖區替換算法[J]. 林子雨,賴明星,鄒權,薛永生,楊思穎.  計算機學報. 2013(08)
[3]我國集成電路測試技術現狀及發展策略[J]. 俞建峰,陳翔,楊雪瑛.  中國測試. 2009(03)
[4]VLSI超大規模集成電路測試和驗證的發展趨勢[J]. 賈建革,段新安,李詠雪.  中國測試技術. 2005(06)

博士論文
[1]提高多核處理器片上Cache利用率的關鍵技術研究[D]. 孫蓀.中國科學技術大學 2015
[2]微網調度優化模型與方法研究[D]. 洪博文.天津大學 2014
[3]云計算任務調度策略研究[D]. 鄧見光.華南理工大學 2014
[4]末級高速緩存性能優化關鍵技術研究[D]. 黃濤.北京大學 2013
[5]并行磁盤系統的預取及緩存技術研究[D]. 史曉東.華中科技大學 2012

碩士論文
[1]集成電路測試系統顯控軟件設計與實現[D]. 劉歡.電子科技大學 2019
[2]數字集成電路測試系統驅動程序的設計及實現[D]. 方田.電子科技大學 2019
[3]集成電路測試系統碼型文件解析軟件設計[D]. 張菁奕.電子科技大學 2018
[4]異構多核下Cache替換算法的性能優化研究[D]. 范清文.北京工業大學 2017
[5]混合存儲架構的自適應頁面管理算法研究[D]. 孫志文.山東大學 2016
[6]混合集成電路測試硬件電路測試板的設計[D]. 汪天偉.電子科技大學 2013
[7]混合集成電路自動測試系統研究與設計[D]. 張憲起.南京理工大學 2013
[8]混合集成電路測試系統上位機軟件設計[D]. 朱龍飛.電子科技大學 2013
[9]數字集成電路測試矢量輸入方法研究和軟件實現[D]. 竇艷杰.電子科技大學 2012
[10]數字集成電路設計方法的研究[D]. 孔德立.西安電子科技大學 2012



本文編號:2916907

論文下載
論文發表

本文鏈接:http://www.178750.tw/shoufeilunwen/xixikjs/2916907.html

分享
(★^O^★)MG无敌金刚_电子游戏 为什么ag捕鱼王天天输 福彩快3河南走势图 分分彩规律的计算方法 开奖结果直播 大型正规棋牌游戏平台 东北麻将怎么玩 nba掘金vs爵士比赛酷6 江苏快三开奖号 青海省十一选五体彩 天天彩选3走势图 泳坛夺金开奖结果 爱玩棋牌充值卡 麻将百搭怎么翻 微乐吉林长春麻将历史版本 `捕鱼达人 江苏快3预测计划